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          X熒光光譜儀ROHS 分析儀
          詳細說明

          產品介紹:

          1.采用原裝電致冷 性能Si-PIN探測器,分辨率高,探測范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規材料分析的基本要求。


          2.配置 進的DPP數字多道信號集成處理器,比普通模擬多道信號處理器性能佳,尤其在 計數率時分辨率高(如Hg和CI等),高達80MHz的數據傳輸速度使分析時間變短,尤其在測量重復性和長期穩定性上有提高。


          3.內置清攝像系統,清晰觀察樣品,準確定位樣品測試區域。
          4.配套FP測量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測結果趨近準確,更加接近真值水平。


          能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點,將來自試樣的熒光X射線依次檢測,得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖,經放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統計脈沖數,脈沖幅度可以用X光子的能量標度,從而得到計數率隨光子能量變化的分布曲線,即X光能譜圖。



          1、探測器:Amptek Si-PIN探測器,高速脈沖分析系統;

          2、高壓電源:Spellman 50w(50kv/MA);

          3、X射線管:50w側窗鈹窗型X射線管;

          4、能量分辨率:149ev;

          5、元素分析范圍:硫(S)-鈾(U);

          6、測量時間:60-300S;

          7、測量含量范圍:1ppm-99.9%;

          8、交流220v供電設備:1KVA交流凈化穩壓電源;

          9、工作溫度:10-30°C;

          10、測量條件:大氣環境;